Aehr Test Systems 

Společnost Aehr Test Systems, založená v roce 1977 se sídlem ve Fremontu v Kalifornii, se specializuje na globální poskytování pokročilých burn-in a testovacích systémů pro integrované obvody, včetně logických, optických a paměťových zařízení. Její rozsáhlé portfolio produktů zahrnuje řady testovacích a burn-in řešení ABTS a FOX-P, doplněné o specializované komponenty, jako jsou FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier a FOX DiePak Loader. Systém ABTS je navržen specificky pro produkční i kvalifikační posuzování zapouzdřených součástek, pokrývající širokou škálu logických zařízení s nízkým i vysokým výkonem a různé typy pamětí. Pro komplexnější integrované obvody, jako jsou paměti, digitální signálové procesory, mikroprocesory, mikrokontroléry, systémy na čipu (SoC) a integrovaná optická zařízení, usnadňují systémy FOX-XP a FOX-NP burn-in a funkční testování jak na úrovni waferu, tak na úrovni jednotlivých čipů/modulů. Systém FOX-CP od společnosti Aehr nabízí kompaktní řešení pro jednotlivé wafery pro ověřování spolehlivosti logických, paměťových a fotonických zařízení. Významným produktem je WaferPak Contactor, který disponuje exkluzivní plnoobvodovou sondovou kartou pro wafery až do velikosti 300 mm, což umožňuje výrobcům polovodičů provádět komplexní testování a burn-in na úrovni waferu na platformách FOX od Aehr. Dále DiePak Carrier poskytuje opětovně použitelný, dočasný zapouzdřovací médium, které umožňuje výrobcům IC dokončit procesy finálního testování a burn-in pro holé čipy a moduly.