Onto Innovation 

Onto Innovation Inc. se zabývá návrhem, vývojem, výrobou a podporou nástrojů pro kontrolu procesů, které provádějí makroskopickou kontrolu vad a metrologii v USA, Tchajوانu, Jižní Koreji, Japonsku, Číně, jihovýchodní Asii, Asii a Evropě. Společnost nabízí litografické systémy a analytický software pro kontrolu procesů; automatizované a integrované metrologické systémy, kontrolu všech povrchů křemíkových waferů, makroskopickou kontrolu vad, automatizovanou klasifikaci vad a analýzu vzorů, analýzu výtěžnosti, metrologii neprůhledných filmů, 4D business, litografii pro pokročilé zapakování, software pro kontrolu procesů a produkty pro řízení výtěžnosti. Poskytuje také řešení pro řízení procesů a výtěžnosti a zařízení pro zapakování a testování komponent prostřednictvím samostatných systémů pro optickou metrologii, makroskopickou kontrolu vad, litografii zapakování a měření transparentních i neprůhledných tenkých filmů. Kromě toho společnost nabízí portfolio softwaru pro kontrolu procesů, které zahrnuje řešení pro samostatné nástroje, skupiny nástrojů a celofabriční sady. Dále se věnuje systémům a softwaru, náhradním dílům a dalším službám, nabízí také služby licencování softwaru a poskytuje pokročilé produktové řady, jako jsou FAaST, CnCV a MBIR. Produkty společnosti jsou využívány výrobci polovodičů a pokročilých zapakovacích zařízení; křemíkových waferů; výrobců polovodičových integrovaných obvodů; světlodiod; vertikálních povrchově emitujících laserů (VCSEL); mikroelektromechanických systémů (MEMS); CMOS obrazových senzorů; silikonových a složených polovodičových výkonových zařízení; analogových zařízení; RF filtrů; úložišť dat a v různých průmyslových a vědeckých aplikacích. Společnost Onto Innovation Inc. byla založena v roce 1940 a sídlí v Wilmingtonu v Massachusetts.