Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, didirikan pada tahun 1977 dan berbasis di Fremont, California, berspesialisasi dalam penyediaan global sistem burn-in dan pengujian canggih untuk sirkuit terpadu, yang mencakup perangkat logika, optik, dan memori. Lini produknya yang luas mencakup keluarga solusi pengujian dan burn-in ABTS dan FOX-P, dilengkapi dengan komponen khusus seperti FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier, dan FOX DiePak Loader. Sistem ABTS dirancang khusus untuk penilaian produksi dan kualifikasi komponen terkemas, mencakup berbagai perangkat logika daya rendah dan tinggi, serta berbagai jenis memori. Untuk sirkuit terpadu yang lebih kompleks seperti memori, digital signal processors, mikroprosesor, mikrokontroler, systems-on-a-chip, dan perangkat optik terpadu, sistem FOX-XP dan FOX-NP memfasilitasi burn-in dan pengujian fungsional baik pada tingkat wafer maupun tingkat die/modul individual. Sistem FOX-CP dari Aehr menawarkan solusi single-wafer yang ringkas untuk memverifikasi keandalan perangkat logika, memori, dan fotonik. Penawaran yang membedakannya, WaferPak Contactor, menampilkan probe card full-wafer eksklusif yang mengakomodasi wafer hingga 300mm, yang memungkinkan produsen semikonduktor untuk melakukan pengujian tingkat wafer dan burn-in yang komprehensif pada platform FOX Aehr. Selain itu, DiePak Carrier menyediakan media pengemasan sementara yang dapat digunakan kembali, memungkinkan produsen IC untuk menyelesaikan proses pengujian akhir dan burn-in untuk bare die dan modul.