Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, yang diasaskan pada tahun 1977 dan berpangkalan di Fremont, California, pakar dalam penyediaan global sistem ujian dan burn-in termaju untuk litar bersepadu, merangkumi peranti logik, optik, dan memori. Barisan produknya yang luas termasuk keluarga penyelesaian ujian dan burn-in ABTS dan FOX-P, yang dilengkapi dengan komponen khusus seperti FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier, dan FOX DiePak Loader. Sistem ABTS direka khusus untuk penilaian pengeluaran dan kelayakan bahagian berbungkus, merangkumi pelbagai peranti logik kuasa rendah dan tinggi, serta pelbagai jenis memori. Untuk litar bersepadu yang lebih kompleks seperti memori, pemproses isyarat digital, mikroprosesor, mikropengawal, sistem-atas-cip, dan peranti optik bersepadu, sistem FOX-XP dan FOX-NP memudahkan ujian burn-in dan fungsian pada peringkat wafer serta peringkat die/modul individu. Sistem FOX-CP Aehr menawarkan penyelesaian wafer tunggal yang kompak untuk mengesahkan kebolehpercayaan peranti logik, memori, dan fotonik. Tawaran yang membezakannya, WaferPak Contactor, menampilkan kad prob wafer penuh eksklusif, yang menampung wafer sehingga 300mm, membolehkan pengeluar semikonduktor menjalankan ujian tahap wafer dan burn-in yang komprehensif pada platform FOX Aehr. Selain itu, DiePak Carrier menyediakan medium pembungkusan sementara yang boleh digunakan semula, membolehkan pengeluar IC melengkapkan proses ujian akhir dan burn-in untuk die kosong dan modul.