Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems menyediakan sistem ujian untuk proses burning-in dan pengujian litar bersepadu logik, optik, dan memori di seluruh dunia. Ia menawarkan produk seperti keluarga sistem ujian dan burn-in ABTS dan FOX-P serta FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier, dan FOX DiePak Loader. Sistem ABTS digunakan dalam pengeluaran dan ujian kelayakan bahagian berbungkus untuk peranti logik kuasa rendah dan kuasa tinggi, serta pelbagai jenis peranti memori biasa. Sistem FOX-XP dan FOX-NP adalah sistem ujian dan burn-in sentuhan wafer serta die/modul tunggal yang digunakan untuk burn-in dan ujian berfungsi peranti kompleks, seperti memori, pemproses isyarat digital, mikroprosesor, mikropengawal, sistem-atas-cip, dan peranti optik bersepadu. Sistem FOX-CP adalah penyelesaian ujian kompak wafer tunggal dan pengesahan kebolehpercayaan untuk peranti logik, memori, dan fotonik. WaferPak Contactor mengandungi kad prob wafer penuh yang unik yang mampu menguji wafer sehingga 300mm yang membolehkan pengilang IC melakukan ujian dan burn-in wafer penuh pada sistem Aehr Test FOX. DiePak Carrier adalah bungkusan sementara yang boleh digunakan semula yang membolehkan pengilang IC melakukan ujian akhir dan burn-in bagi die kosong dan modul. Aehr Test Systems telah diperbadankan pada tahun 1977 dan beribu pejabat di Fremont, California.