Aehr Test Systems 

Spoločnosť Aehr Test Systems, založená v roku 1977 so sídlom vo Fremont, Kalifornia, sa špecializuje na globálne poskytovanie pokročilých burn-in a testovacích systémov pre integrované obvody, ktoré zahŕňajú logické, optické a pamäťové zariadenia. Jej rozsiahle portfólio produktov zahŕňa rodiny testovacích a burn-in riešení ABTS a FOX-P, doplnené o špecializované komponenty, ako sú FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier a FOX DiePak Loader. Systém ABTS je navrhnutý špecificky pre výrobné aj kvalifikačné posúdenia zapakovaných dielov, pokrývajúce širokú škálu logických zariadení s nižším a vyšším výkonom, ako aj rôzne typy pamätí. Pre komplexnejšie integrované obvody, ako sú pamäte, digitálne signálové procesory, mikroprocesory, mikrokontroléry, systémy na čipe (SoC) a integrované optické zariadenia, uľahčujú systémy FOX-XP a FOX-NP burn-in a funkčné testovanie na úrovni waferov aj jednotlivých die/modulov. Systém FOX-CP od spoločnosti Aehr ponúka kompaktné riešenie pre jednotlivé wafery na overenie spoľahlivosti logických, pamäťových a fotónických zariadení. Výrazným produktom je WaferPak Contactor, ktorý obsahuje exkluzívnu probe kartu pre celý wafer, kompatibilnú s wafermi až do 300 mm, čo umožňuje výrocom polovodičov vykonávať komplexné testovanie a burn-in na úrovni waferov na platformách FOX od Aehr. Okrem toho DiePak Carrier poskytuje opakovateľné, dočasné balenie, ktoré umožňuje výrocom IC dokončiť procesy konečného testovania a burn-in pre holé die a moduly.