Onto Innovation 

Onto Innovation Inc. sa zaoberuje návrhom, vývojom, výrobou a podporou nástrojov na kontrolu procesov, ktoré vykonávajú inšpekciu makrodefektov a metrológiu v USA, Taiwane, Južnej Kórei, Japonsku, Číne, Južnej Ázii, Ázii a Európe. Spoločnosť ponúka litografické systémy a analytický softvér na kontrolu procesov; automatizované a integrované metrologické systémy, inšpekciu všetkých povrchov silikónových waferov, inšpekciu makrodefektov, automatizovanú klasifikáciu defektov a analýzu vzorov, analýzu výťažnosti (yield analysis), metrológiu nepriehľadných filmov, 4D business, pokročilú litografiu pre zapakovanie, softvér na kontrolu procesov a produkty softvéru na riadenie výťažnosti. Poskytuje tiež riešenia na riadenie procesov a výťažnosti a zariadenia na zapakovanie a testovanie komponent prostredníctvom samostatných systémov pre optickú metrológiu, inšpekciu makrodefektov, litografiu balenia a meranie transparentných a nepriehľadných tenkých filmov. Okrem toho spoločnosť ponúka portfólio softvéru na kontrolu procesov, ktoré zahŕňa riešenia pre samostatné nástroje, skupiny nástrojov a továrenné súpravy. Doblنا sa tiež angažuje v systémoch a softvéri, náhradných dielych a iných službách, ako aj ponúka služby licencovania softvéru; a poskytuje pokročilé produktové línie, ako sú FAaST, CnCV a MBIR. Produkty spoločnosti sa používajú u výrobcov polovodičov a pokročilých zariadení na zapakovanie; silikónových waferov; výrobcov polovodičových integrovaných obvodov; svetlediôd (LED); vertikálnych povrchovo emitujúcich laserov (VCSEL); mikroelektromechanických systémov (MEMS); CMOS obrazových senzorov; silikónových a zložených polovodičových výkonových zariadení; analógových zariadení; RF filtrov; úložiska dát a v rôznych priemyselných a vedeckých aplikáciách. Spoločnosť Onto Innovation Inc. bola založená v roku 1940 a má sídlo v Wilmington, Massachusetts.