Skyverse Technology. 

Skyverse Technology ผลิตและจำหน่ายอุปกรณ์ควบคุมคุณภาพให้แก่สถานประกอบการที่เกี่ยวข้องกับกระบวนการผลิตวงจรรวม (Integrated Circuit) ขั้นต้นและการบรรจุภัณฑ์ทั้งในประเทศจีนและระดับสากล บริษัทนำเสนออุปกรณ์ตรวจสอบจุดบกพร่องบนแผ่นเวเฟอร์ (Wafer defect inspection) ทั้งแบบ unpatterned, three-in-one patterned, dark-field nano patterned, patterned และ bright-field nano patterned รวมถึงซีรีส์อุปกรณ์วัดขนาดวิกฤตด้วยแสง (Optical critical dimension), ความหนาของฟิล์มโลหะ, อัตราการกัด (Ratio etch), การวางตำแหน่งซ้อนทับ (Overlay), การวัดขนาดวิกฤตด้วยลำแสงอิเล็กตรอน (E-beam critical dimension), การเลี้ยวเบนของแสง (Optical diffraction), ความราบของแผ่นเวเฟอร์, การวัดลักษณะพื้นผิวแบบ 3 มิติ และอุปกรณ์วัดความหนาของฟิล์มไดอิเล็กทริก นอกจากนี้ บริษัทยังให้บริการด้านซอฟต์แวร์ เช่น การจัดการผลผลิต (Yield management), ระบบจำแนกจุดบกพร่องเซมิคอนดักเตอร์อัตโนมัติ และระบบวิเคราะห์และควบคุมการพิมพ์วงจรเซมิคอนดักเตอร์ (Semiconductor litho analysis and control systems) บริษัทก่อตั้งขึ้นในปี 2014 และมีสำนักงานตั้งอยู่ที่เมืองเซินเจิ้น ประเทศจีน