Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems ก่อตั้งขึ้นในปี 1977 มีสำนักงานตั้งอยู่ที่เมืองฟรีมอนต์ รัฐแคลิฟอร์เนีย เชี่ยวชาญด้านการจัดหาเทคโนโลยีระบบทดสอบและ burn-in ขั้นสูงระดับโลกสำหรับวงจรรวม (integrated circuits) ซึ่งครอบคลุมทั้งอุปกรณ์ประเภท logic, optical และ memory กลุ่มผลิตภัณฑ์ที่หลากหลายประกอบด้วยโซลูชันการทดสอบและ burn-in ตระกูล ABTS และ FOX-P เสริมด้วยส่วนประกอบเฉพาะทาง เช่น FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier และ FOX DiePak Loader โดยระบบ ABTS ได้รับการออกแบบมาโดยเฉพาะสำหรับการประเมินทั้งในขั้นตอนการผลิตและการตรวจสอบคุณสมบัติของชิ้นส่วนที่ผ่านการบรรจุภัณฑ์ (packaged parts) ครอบคลุมอุปกรณ์ logic ทั้งแบบกำลังไฟต่ำและสูง รวมถึงหน่วยความจำประเภทต่างๆ สำหรับวงจรรวมที่มีความซับซ้อนมากขึ้น เช่น memory, digital signal processors, microprocessors, microcontrollers, systems-on-a-chip และอุปกรณ์ optical แบบรวมวงจร ระบบ FOX-XP และ FOX-NP จะช่วยอำนวยความสะดวกในการทำ burn-in และการทดสอบฟังก์ชันการทำงานทั้งในระดับแผ่นเวเฟอร์ (wafer) และระดับ die/module รายชิ้น นอกจากนี้ ระบบ FOX-CP ของ Aehr ยังนำเสนอโซลูชันแบบ single-wafer ที่กะทัดรัดเพื่อตรวจสอบความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์ logic, memory และ photonic อีกหนึ่งผลิตภัณฑ์ที่โดดเด่นคือ WaferPak Contactor ซึ่งมาพร้อมกับ full-wafer probe card เอกสิทธิ์เฉพาะที่รองรับแผ่นเวเฟอร์ขนาดสูงสุดถึง 300 มม. ช่วยให้ผู้ผลิตเซมิคอนดักเตอร์สามารถดำเนินการทดสอบระดับแผ่นเวเฟอร์และ burn-in ได้อย่างครอบคลุมบนแพลตฟอร์ม FOX ของ Aehr ยิ่งไปกว่านั้น DiePak Carrier ยังทำหน้าที่เป็นสื่อกลางในการบรรจุภัณฑ์ชั่วคราวที่สามารถนำกลับมาใช้ใหม่ได้ ช่วยให้ผู้ผลิต IC สามารถดำเนินการทดสอบขั้นสุดท้ายและกระบวนการ burn-in สำหรับ bare die และ module ได้อย่างมีประสิทธิภาพ