Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems เป็นผู้ให้บริการระบบทดสอบสำหรับการ burn-in และการทดสอบวงจรรวม (integrated circuits) ประเภท logic, optical และ memory ทั่วโลก โดยนำเสนอผลิตภัณฑ์ เช่น ระบบทดสอบและ burn-in ตระกูล ABTS และ FOX-P รวมถึง FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier และ FOX DiePak Loader ระบบ ABTS ถูกนำมาใช้ในการผลิตและการทดสอบคุณสมบัติ (qualification testing) ของชิ้นส่วนที่ผ่านการบรรจุภัณฑ์ (packaged parts) สำหรับอุปกรณ์ logic ทั้งแบบใช้พลังงานต่ำและพลังงานสูง ตลอดจนอุปกรณ์หน่วยความจำประเภทต่างๆ ระบบ FOX-XP และ FOX-NP เป็นระบบทดสอบและ burn-in สำหรับ wafer contact และ singulated die/module ที่ใช้ในการ burn-in และทดสอบฟังก์ชันของอุปกรณ์ที่มีความซับซ้อน เช่น หน่วยความจำ, digital signal processors, microprocessors, microcontrollers, systems-on-a-chip และอุปกรณ์ optical แบบรวมวงจร ส่วนระบบ FOX-CP เป็นโซลูชันการทดสอบแบบ compact สำหรับ single-wafer เพื่อตรวจสอบความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์ logic, memory และ photonic โดย WaferPak Contactor ประกอบด้วย full wafer probe card ที่มีเอกลักษณ์เฉพาะตัว ซึ่งสามารถทดสอบ wafer ได้สูงสุดถึง 300 มม. ช่วยให้ผู้ผลิต IC สามารถดำเนินการทดสอบและ burn-in ของ full wafers บนระบบ Aehr Test FOX ได้ สำหรับ DiePak Carrier เป็นบรรจุภัณฑ์ชั่วคราวที่สามารถนำกลับมาใช้ใหม่ได้ ช่วยให้ผู้ผลิต IC สามารถดำเนินการทดสอบขั้นสุดท้าย (final test) และ burn-in ของ bare die และ modules ได้ ทั้งนี้ Aehr Test Systems ก่อตั้งขึ้นในปี 1977 และมีสำนักงานใหญ่ตั้งอยู่ที่เมือง Fremont รัฐแคลิฟอร์เนีย