Onto Innovation 

Onto Innovation Inc. ดำเนินธุรกิจด้านการออกแบบ การพัฒนา การผลิต และการสนับสนุนเครื่องมือควบคุมกระบวนการ (process control tools) ที่ทำหน้าที่ตรวจสอบข้อบกพร่องขนาดใหญ่ (macro-defect inspection) และการวัดขนาดทางมาตรวิทยา (metrology) ในสหรัฐอเมริกา ไต้หวัน เกาหลีใต้ ญี่ปุ่น จีน เอเชียตะวันออกเฉียงใต้ เอเชีย และยุโรป บริษัทนำเสนอระบบลิโทกราฟี (lithography systems) และซอฟต์แวร์วิเคราะห์การควบคุมกระบวนการ รวมถึงระบบมาตรวิทยาแบบอัตโนมัติและแบบบูรณาการ การตรวจสอบพื้นผิวซิลิคอนเวเฟอร์ทั้งหมด การตรวจสอบข้อบกพร่องขนาดใหญ่ การจำแนกข้อบกพร่องแบบอัตโนมัติและการวิเคราะห์รูปแบบ การวิเคราะห์ผลผลิต (yield analysis) การวัดมาตรวิทยาฟิล์มทึบแสง ธุรกิจ 4D ลิโทกราฟีสำหรับการบรรจุภัณฑ์ขั้นสูง ซอฟต์แวร์ควบคุมกระบวนการ และผลิตภัณฑ์ซอฟต์แวร์การจัดการผลผลิต นอกจากนี้ บริษัทยังให้บริการโซลูชันการจัดการกระบวนการและผลผลิต รวมถึงสิ่งอำนวยความสะดวกในการบรรจุภัณฑ์และทดสอบอุปกรณ์ผ่านระบบแบบ Standalone สำหรับมาตรวิทยาเชิงแสง การตรวจสอบข้อบกพร่องขนาดใหญ่ ลิโทกราฟีสำหรับการบรรจุภัณฑ์ และการวัดฟิล์มบางแบบโปร่งใสและทึบแสง ยิ่งไปกว่านั้น บริษัทยังนำเสนอพอร์ตโฟลิโอซอฟต์แวร์ควบคุมกระบวนการซึ่งรวมถึงโซลูชันสำหรับเครื่องมือแบบ Standalone กลุ่มเครื่องมือ และชุดซอฟต์แวร์สำหรับทั้งโรงงาน นอกจากนี้ บริษัทยังดำเนินธุรกิจด้านระบบและซอฟต์แวร์ อะไหล่ และบริการอื่น ๆ ตลอดจนบริการให้สิทธิ์การใช้งานซอฟต์แวร์ และนำเสนอสายผลิตภัณฑ์ขั้นสูง เช่น FAaST, CnCV และ MBIR ผลิตภัณฑ์ของบริษัทถูกนำไปใช้ในกลุ่มผู้ผลิตเซมิคอนดักเตอร์และอุปกรณ์บรรจุภัณฑ์ขั้นสูง แผ่นซิลิคอนเวเฟอร์ ผู้ผลิตวงจรรวมเซมิคอนดักเตอร์ ไดโอดเปล่งแสง (LED) เลเซอร์แบบ VCSEL ระบบไมโครอิเล็กโทรแมคคานิกส์ (MEMS) เซนเซอร์ภาพ CMOS อุปกรณ์กำลังเซมิคอนดักเตอร์ชนิดซิลิคอนและสารประกอบ อุปกรณ์อนาล็อก ตัวกรอง RF การจัดเก็บข้อมูล และการใช้งานทางอุตสาหกรรมและวิทยาศาสตร์ต่าง ๆ Onto Innovation Inc. ก่อตั้งขึ้นในปี 1940 และมีสำนักงานใหญ่ตั้งอยู่ที่เมืองวิลมิงตัน รัฐแมสซาชูเซตส์