Aehr Test Systems 

1977 yılında kurulan ve merkezi Fremont, California'da bulunan Aehr Test Systems; mantık, optik ve bellek cihazlarını kapsayan entegre devreler için gelişmiş burn-in ve test sistemlerinin küresel ölçekte sağlanması konusunda uzmanlaşmıştır. Geniş ürün yelpazesi, ABTS ve FOX-P test ve burn-in çözümleri ailelerinin yanı sıra FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier ve FOX DiePak Loader gibi özel bileşenleri içermektedir. ABTS sistemi, çeşitli düşük ve yüksek güçteki mantık cihazlarının yanı sıra farklı bellek türlerini kapsayacak şekilde, paketlenmiş parçaların hem üretim hem de kalifikasyon değerlendirmeleri için özel olarak tasarlanmıştır. Bellekler, dijital sinyal işlemcileri, mikroişlemciler, mikrodenetleyiciler, sistemler yongası (SoC) ve entegre optik cihazlar gibi daha karmaşık entegre devreler için FOX-XP ve FOX-NP sistemleri, hem wafer hem de bireysel die/modül seviyelerinde burn-in ve fonksiyonel test imkanı sağlar. Aehr'ın FOX-CP sistemi; mantık, bellek ve fotonik cihazların güvenilirliğini doğrulamak için kompakt, tekli wafer çözümü sunar. Ayırt edici bir ürün olan WaferPak Contactor, 300 mm'ye kadar wafer'ları destekleyen özel bir tam wafer probe kartına sahiptir ve bu da yarı iletken üreticilerinin Aehr'ın FOX platformlarında kapsamlı wafer seviyesinde test ve burn-in yapmalarına olanak tanır. Ayrıca DiePak Carrier, IC üreticilerinin çıplak die ve modüller için nihai test ve burn-in süreçlerini tamamlamalarını sağlayan, yeniden kullanılabilir, geçici bir paketleme ortamı sunar.