Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems; dünya çapında lojik, optik ve bellek entegre devrelerinin burn-in (yaşlandırma) ve test işlemleri için test sistemleri sağlar. ABTS ve FOX-P test ve burn-in sistemleri aileleri ile FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier ve FOX DiePak Loader gibi ürünler sunmaktadır. ABTS sistemi, düşük ve yüksek güç lojik cihazlarının yanı sıra çeşitli yaygın bellek türleri için paketlenmiş parçaların üretim ve kalifikasyon testlerinde kullanılır. FOX-XP ve FOX-NP sistemleri; bellekler, dijital sinyal işlemcileri, mikroişlemciler, mikrodenetleyiciler, sistem üzerinde yongalar (SoC) ve entegre optik cihazlar gibi karmaşık cihazların burn-in ve fonksiyonel testleri için kullanılan wafer kontak ve singulated die/modül test ve burn-in sistemleridir. FOX-CP sistemi; lojik, bellek ve fotonik cihazlar için tekli wafer kompakt test ve güvenilirlik doğrulama çözümüdür. WaferPak Contactor, IC üreticilerinin Aehr Test FOX sistemlerinde tam wafer'lar üzerinde test ve burn-in yapmalarına olanak tanıyan, 300 mm'ye kadar wafer'ları test edebilen benzersiz bir tam wafer probe kartı içerir. DiePak Carrier, IC üreticilerinin çıplak die ve modüllerin final test ve burn-in işlemlerini gerçekleştirmelerini sağlayan yeniden kullanılabilir, geçici bir pakettir. Aehr Test Systems 1977 yılında kurulmuştur ve merkezi Fremont, California'da bulunmaktadır.