Onto Innovation 

Onto Innovation Inc.; Amerika Birleşik Devletleri, Tayvan, Güney Kore, Japonya, Çin, Güneydoğu Asya, Asya ve Avrupa'da makro kusur denetimi ve metroloji gerçekleştiren süreç kontrol araçlarının tasarımı, geliştirilmesi, üretimi ve desteği ile uğraşmaktadır. Şirket; litografi sistemleri ve süreç kontrol analitik yazılımlarının yanı sıra otomatik ve entegre metroloji sistemleri, silikon plaka tüm yüzey denetimi, makro kusur denetimi, otomatik kusur sınıflandırma ve desen analizi, verim analizi, opak film metrolojisi, 4D iş birimi, gelişmiş paketleme litografisi, süreç kontrol yazılımı ve verim yönetimi yazılımı ürünleri sunmaktadır. Ayrıca optik metroloji, makro kusur denetimi, paketleme litografisi ve şeffaf ile opak ince film ölçümleri için bağımsız sistemler aracılığıyla süreç ve verim yönetimi çözümleri ile cihaz paketleme ve test tesisleri sağlamaktadır. Buna ek olarak şirket; bağımsız araçlar, araç grupları ve fabrika genelindeki paketler için çözümler içeren bir süreç kontrol yazılımı portföyü sunmaktadır. Ayrıca sistemler ve yazılımlar, yedek parçalar ve diğer hizmetlerin yanı sıra yazılım lisanslama hizmetleri sunmakta; FAaST, CnCV ve MBIR gibi gelişmiş ürün hatları sağlamaktadır. Şirketin ürünleri; yarı iletken ve gelişmiş paketleme cihaz üreticileri, silikon plakalar, yarı iletken entegre devre üreticileri, ışık yayan diyotlar, dikey boşluklu yüzey yayan lazerler, mikro-elektromekanik sistemler, CMOS görüntü sensörleri, silikon ve bileşik yarı iletken güç cihazları, analog cihazlar, RF filtreleri, veri depolama ve çeşitli endüstriyel ve bilimsel uygulamalarda kullanılmaktadır. Onto Innovation Inc. 1940 yılında kurulmuştur ve merkezi Wilmington, Massachusetts'tedir.