Onto Innovation 

Onto Innovation Inc. tham gia vào việc thiết kế, phát triển, sản xuất và hỗ trợ các công cụ kiểm soát quy trình thực hiện kiểm tra lỗi vĩ mô và đo lường tại Hoa Kỳ, Đài Loan, Hàn Quốc, Nhật Bản, Trung Quốc, Đông Nam Á, Châu Á và Châu Âu. Công ty cung cấp các hệ thống quang khắc và phần mềm phân tích kiểm soát quy trình; cùng các hệ thống đo lường tự động và tích hợp, kiểm tra toàn bộ bề mặt tấm silicon, kiểm tra lỗi vĩ mô, phân loại lỗi tự động và phân tích mẫu, phân tích hiệu suất (yield), đo lường màng đục, kinh doanh 4D, quang khắc đóng gói tiên tiến, phần mềm kiểm soát quy trình và các sản phẩm phần mềm quản lý hiệu suất. Công ty cũng cung cấp các giải pháp quản lý quy trình và hiệu suất, cùng các cơ sở đóng gói và kiểm thử thiết bị thông qua các hệ thống độc lập để đo lường quang học, kiểm tra lỗi vĩ mô, quang khắc đóng gói, và đo lường màng mỏng trong suốt và đục. Ngoài ra, công ty cung cấp danh mục phần mềm kiểm soát quy trình bao gồm các giải pháp cho các công cụ độc lập, nhóm công cụ và các bộ giải pháp toàn nhà máy. Hơn nữa, công ty tham gia vào các hệ thống và phần mềm, phụ tùng thay thế và các dịch vụ khác, cũng như cung cấp dịch vụ cấp phép phần mềm; và cung cấp các dòng sản phẩm tiên tiến như FAaST, CnCV và MBIR. Sản phẩm của công ty được sử dụng trong các nhà sản xuất thiết bị bán dẫn và đóng gói tiên tiến; tấm silicon; các nhà chế tạo mạch tích hợp bán dẫn; điốt phát quang; laser phát xạ bề mặt hốc dọc; hệ thống vi cơ điện tử; cảm biến hình ảnh CMOS; thiết bị công suất bán dẫn silicon và bán dẫn hợp chất; thiết bị tương tự (analog); bộ lọc RF; lưu trữ dữ liệu; và các ứng dụng công nghiệp và khoa học khác nhau. Onto Innovation Inc. được thành lập vào năm 1940 và có trụ sở chính tại Wilmington, Massachusetts.