Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems 为全球范围内的逻辑、光学和存储集成电路提供老化测试及测试系统。公司提供多种产品，包括 ABTS 和 FOX-P 系列测试与老化系统，以及 FOX WaferPak Aligner、FOX-XP WaferPak Contactor、FOX DiePak Carrier 和 FOX DiePak Loader。ABTS 系统用于低功耗、高功耗逻辑器件以及各种常见类型存储器件的封装部件生产和鉴定测试。FOX-XP 和 FOX-NP 系统是晶圆接触及单颗芯片/模块测试与老化系统，用于存储器、数字信号处理器、微处理器、微控制器、系统级芯片（SoC）和集成光学器件等复杂器件的老化和功能测试。FOX-CP 系统是针对逻辑、存储和光子器件的单晶圆紧凑型测试与可靠性验证解决方案。WaferPak Contactor 包含独特的全晶圆探针卡，能够测试高达 300mm 的晶圆，使 IC 制造商能够在 Aehr Test FOX 系统上对全晶圆进行测试和老化。DiePak Carrier 是一种可重复使用的临时封装，使 IC 制造商能够对裸芯片和模块进行最终测试与老化。Aehr Test Systems 成立于 1977 年，总部位于加利福尼亚州弗里蒙特。