Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems 成立于 1977 年，总部位于加利福尼亚州弗里蒙特，专注于为逻辑、光学和存储设备等集成电路提供全球领先的先进老化测试（burn-in）和测试系统。其广泛的产品线包括 ABTS 和 FOX-P 系列测试及老化解决方案，并辅以 FOX WaferPak Aligner、FOX-XP WaferPak Contactor、FOX DiePak Carrier 和 FOX DiePak Loader 等专业组件。ABTS 系统专为封装部件的生产和鉴定评估而设计，涵盖了从低功率到高功率的逻辑器件以及各种类型的存储器。对于更复杂的集成电路，如存储器、数字信号处理器、微处理器、微控制器、系统级芯片（SoC）和集成光学器件，FOX-XP 和 FOX-NP 系统可在晶圆级和单个芯片/模块级实现老化测试和功能测试。Aehr 的 FOX-CP 系统提供了一种紧凑的单晶圆解决方案，用于验证逻辑、存储和光子器件的可靠性。其特色产品 WaferPak Contactor 拥有独有的全晶圆探针卡，可容纳高达 300mm 的晶圆，使半导体制造商能够在 Aehr 的 FOX 平台上进行全面的晶圆级测试和老化处理。此外，DiePak Carrier 提供了一种可重复使用的临时封装介质，助力集成电路制造商完成裸芯片和模块的最终测试及老化流程。