Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems bietet weltweit Testsysteme für das Burn-In sowie das Testen von Logik-, Optik- und Speicher-integrierten Schaltkreisen an. Das Unternehmen bietet Produkte wie die Test- und Burn-In-Systemfamilien ABTS und FOX-P sowie den FOX WaferPak Aligner, den FOX-XP WaferPak Contactor, den FOX DiePak Carrier und den FOX DiePak Loader an. Das ABTS-System wird bei der Produktions- und Qualifizierungsprüfung von verpackten Bauteilen für Low-Power- und High-Power-Logikbausteine sowie für verschiedene gängige Arten von Speicherbausteinen eingesetzt. Die FOX-XP- und FOX-NP-Systeme sind Wafer-Kontakt- sowie singulierte Die/Modul-Test- und Burn-In-Systeme, die für das Burn-In und den Funktionstest komplexer Geräte wie Speicher, digitale Signalprozessoren, Mikroprozessoren, Mikrocontroller, System-on-a-Chip und integrierte optische Geräte verwendet werden. Das FOX-CP-System ist eine kompakte Single-Wafer-Test- und Zuverlässigkeitsprüfungs-Lösung für Logik-, Speicher- und photonische Geräte. Der WaferPak Contactor enthält eine einzigartige Full-Wafer-Probe-Card, die in der Lage ist, Wafers bis zu 300 mm zu testen, was IC-Herstellern ermöglicht, Test- und Burn-In-Verfahren an vollen Wafern auf Aehr Test FOX-Systemen durchzuführen. Der DiePak Carrier ist ein wiederverwendbares, temporäres Gehäuse, das es IC-Herstellern ermöglicht, den Endtest und das Burn-In von Bare Die und Modulen durchzuführen. Aehr Test Systems wurde 1977 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Fremont, Kalifornien.