Onto Innovation 

Onto Innovation Inc. befasst sich mit dem Design, der Entwicklung, der Herstellung und dem Support von Prozesskontrollwerkzeugen zur Makrodefektinspektion und Metrologie in den USA, Taiwan, Südkorea, Japan, China, Südostasien, Asien und Europa. Das Unternehmen bietet Lithographiesysteme und Prozesskontroll-Analysesoftware sowie automatisierte und integrierte Metrologiesysteme, All-Surface-Inspektion von Siliziumwafern, Makrodefektinspektion, automatisierte Defektklassifizierung und Musteranalyse, Ertragsanalyse, Metrologie für opake Schichten, 4D-Business, fortschrittliche Packaging-Lithographie, Prozesskontrollsoftware und Yield-Management-Softwareprodukte an. Es bietet zudem Prozess- und Ertragsmanagementlösungen sowie Device-Packaging- und Testeinrichtungen durch Standalone-Systeme für optische Metrologie, Makrodefektinspektion, Packaging-Lithographie sowie Messungen von transparenten und opaken Dünnschichten an. Darüber hinaus bietet das Unternehmen ein Portfolio an Prozesskontrollsoftware an, das Lösungen für Standalone-Tools, Tool-Gruppen und werksweite Suiten umfasst. Des Weiteren ist das Unternehmen in den Bereichen Systeme und Software, Ersatzteile und andere Dienstleistungen tätig, bietet Softwarelizenzierungsdienste an und führt fortschrittliche Produktlinien wie FAaST, CnCV und MBIR. Die Produkte des Unternehmens werden bei Herstellern von Halbleitern und fortschrittlichen Packaging-Devices, Siliziumwafern, Halbleiter-integrierten Schaltkreisen, Leuchtdioden, vertikal emittierenden Lasern (VCSEL), mikroelektromechanischen Systemen (MEMS), CMOS-Bildsensoren, Silizium- und Verbindungshalbleiter-Leistungshalbleitern, Analogbauteilen, RF-Filtern, Datenspeichern sowie in verschiedenen industriellen und wissenschaftlichen Anwendungen eingesetzt. Onto Innovation Inc. wurde 1940 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Wilmington, Massachusetts.