Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems proporciona sistemas de prueba para el burn-in y el testeo de circuitos integrados lógicos, ópticos y de memoria en todo el mundo. Ofrece productos como las familias de sistemas de prueba y burn-in ABTS y FOX-P, así como el FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier y FOX DiePak Loader. El sistema ABTS se utiliza en la producción y en las pruebas de calificación de componentes empaquetados para dispositivos lógicos de baja y alta potencia, así como para diversos tipos comunes de dispositivos de memoria. Los sistemas FOX-XP y FOX-NP son sistemas de contacto de oblea y de prueba y burn-in de módulos o chips singulados, utilizados para el burn-in y la prueba funcional de dispositivos complejos, tales como memorias, procesadores de señales digitales, microprocesadores, microcontroladores, sistemas en chip (SoC) y dispositivos ópticos integrados. El sistema FOX-CP es una solución compacta de prueba de oblea única y verificación de confiabilidad para dispositivos lógicos, de memoria y fotónicos. El WaferPak Contactor contiene una tarjeta de prueba de oblea completa única, capaz de probar obleas de hasta 300 mm, lo que permite a los fabricantes de CI realizar pruebas y burn-in de obleas completas en los sistemas Aehr Test FOX. El DiePak Carrier es un empaque temporal reutilizable que permite a los fabricantes de CI realizar la prueba final y el burn-in de chips sueltos (bare die) y módulos. Aehr Test Systems se constituyó en 1977 y tiene su sede en Fremont, California.