Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, fundada en 1977 y con sede en Fremont, California, se especializa en la provisión global de sistemas avanzados de burn-in y prueba para circuitos integrados, que abarcan dispositivos lógicos, ópticos y de memoria. Su amplia línea de productos incluye las familias de soluciones de prueba y burn-in ABTS y FOX-P, complementadas por componentes especializados como el FOX WaferPak Aligner, el FOX-XP WaferPak Contactor, el FOX DiePak Carrier y el FOX DiePak Loader. El sistema ABTS está diseñado específicamente tanto para la producción como para las evaluaciones de calificación de piezas empaquetadas, cubriendo una gama de dispositivos lógicos de baja y alta potencia, así como varios tipos de memoria. Para circuitos integrados más complejos como memorias, procesadores de señales digitales, microprocesadores, microcontroladores, sistemas en chip (SoC) y dispositivos ópticos integrados, los sistemas FOX-XP y FOX-NP facilitan el burn-in y las pruebas funcionales tanto a nivel de oblea como de die/módulo individual. El sistema FOX-CP de Aehr ofrece una solución compacta de oblea única para verificar la confiabilidad de dispositivos lógicos, de memoria y fotónicos. Una oferta distintiva, el WaferPak Contactor, cuenta con una tarjeta de prueba de oblea completa exclusiva, que admite obleas de hasta 300 mm, lo que permite a los fabricantes de semiconductores realizar pruebas integrales y burn-in a nivel de oblea en las plataformas FOX de Aehr. Además, el DiePak Carrier proporciona un medio de empaquetado temporal y reutilizable, lo que permite a los fabricantes de CI completar los procesos de prueba final y burn-in para die sueltos y módulos.