Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, fondée en 1977 et basée à Fremont, en Californie, se spécialise dans la fourniture mondiale de systèmes de test et de burn-in avancés pour les circuits intégrés, englobant les dispositifs logiques, optiques et de mémoire. Sa vaste gamme de produits comprend les familles de solutions de test et de burn-in ABTS et FOX-P, complétées par des composants spécialisés tels que le FOX WaferPak Aligner, le FOX-XP WaferPak Contactor, le FOX DiePak Carrier et le FOX DiePak Loader. Le système ABTS est spécifiquement conçu pour les évaluations de production et de qualification de composants emballés, couvrant une gamme de dispositifs logiques de faible et haute puissance, ainsi que divers types de mémoire. Pour les circuits intégrés plus complexes tels que les mémoires, les processeurs de signal numérique, les microprocesseurs, les microcontrôleurs, les systèmes sur puce (SoC) et les dispositifs optiques intégrés, les systèmes FOX-XP et FOX-NP facilitent le burn-in et les tests fonctionnels au niveau du wafer et au niveau individuel de la puce ou du module. Le système FOX-CP d'Aehr offre une solution compacte pour un seul wafer afin de vérifier la fiabilité des dispositifs logiques, de mémoire et photoniques. Une offre distinctive, le WaferPak Contactor, présente une carte de test full-wafer exclusive, acceptant des wafers allant jusqu'à 300 mm, ce qui permet aux fabricants de semi-conducteurs de mener des tests et des burn-in complets au niveau du wafer sur les plateformes FOX d'Aehr. De plus, le DiePak Carrier fournit un support d'emballage temporaire et réutilisable, permettant aux fabricants de CI de mener à bien les processus de test final et de burn-in pour les puces nues et les modules.