Onto Innovation 

A Onto Innovation Inc. dedica-se ao design, desenvolvimento, fabricação e suporte de ferramentas de controle de processo que realizam inspeção de macrodefeitos e metrologia nos Estados Unidos, Taiwan, Coreia do Sul, Japão, China, Sudeste Asiático, Ásia e Europa. A empresa oferece sistemas de litografia e software analítico de controle de processo; além de sistemas de metrologia automatizados e integrados, inspeção de toda a superfície de wafers de silício, inspeção de macrodefeitos, classificação automatizada de defeitos e análise de padrões, análise de rendimento (yield), metrologia de filmes opacos, 4D business, litografia de embalagem avançada, software de controle de processo e produtos de software de gestão de rendimento. Também fornece soluções de gestão de processo e rendimento, bem como instalações de teste e embalagem de dispositivos por meio de sistemas independentes para metrologia óptica, inspeção de macrodefeitos, litografia de embalagem e medições de filmes finos transparentes e opacos. Além disso, a empresa oferece um portfólio de software de controle de processo que inclui soluções para ferramentas independentes, grupos de ferramentas e suítes para toda a fábrica. Adicionalmente, atua com sistemas e software, peças de reposição e outros serviços, além de oferecer serviços de licenciamento de software; e fornece linhas de produtos avançadas, como FAaST, CnCV e MBIR. Os produtos da empresa são utilizados por fabricantes de semicondutores e dispositivos de embalagem avançada; wafers de silício; fabricantes de circuitos integrados semicondutores; diodos emissores de luz; lasers de emissão de superfície de cavidade vertical; sistemas microeletromecânicos; sensores de imagem CMOS; dispositivos de potência de silício e semicondutores compostos; dispositivos analógicos; filtros de RF; armazenamento de dados; e diversas aplicações industriais e científicas. A Onto Innovation Inc. foi fundada em 1940 e tem sede em Wilmington, Massachusetts.