Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, grundat 1977 med säte i Fremont, Kalifornien, specialiserar sig på den globala leveransen av avancerade burn-in- och testsystem för integrerade kretsar, vilket omfattar logik-, optik- och minnesenheter. Dess omfattande produktlinje inkluderar ABTS- och FOX-P-familjerna av test- och burn-in-lösningar, kompletterade med specialkomponenter såsom FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier och FOX DiePak Loader. ABTS-systemet är specifikt utformat för både produktions- och kvalificeringsbedömningar av inkapslade komponenter, vilket täcker ett spektrum av logikenheter med både låg och hög effekt, samt olika typer av minnen. För mer komplexa integrerade kretsar som minnen, digitala signalprocessorer, mikroprocessorer, mikrokontroller, system-on-a-chip och integrerade optiska enheter, möjliggör FOX-XP- och FOX-NP-systemen burn-in och funktionstestning på både wafer- och enskild die/modulnivå. Aehrs FOX-CP-system erbjuder en kompakt single-wafer-lösning för att verifiera tillförlitligheten hos logik-, minnes- och fotoniska enheter. Ett utmärkande erbjudande, WaferPak Contactor, har ett exklusivt full-wafer probe card som rymmer wafers upp till 300 mm, vilket gör det möjligt för halvledartillverkare att genomföra omfattande wafer-nivå-testning och burn-in på Aehrs FOX-plattformar. Vidare erbjuder DiePak Carrier ett återanvändbart, temporärt inkapslingsmedium som gör det möjligt för IC-tillverkare att slutföra sluttester och burn-in-processer för bare die och moduler.