Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems tillhandahåller testsystem för burn-in och testning av logiska, optiska och minnesbaserade integrerade kretsar över hela världen. Företaget erbjuder produkter såsom test- och burn-in-systemen i familjerna ABTS och FOX-P, samt FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier och FOX DiePak Loader. ABTS-systemet används vid produktions- och kvalificeringstestning av förpackade komponenter för logiska enheter med både låg och hög effekt, samt för olika vanliga typer av minnesenheter. FOX-XP- och FOX-NP-systemen är wafer-kontakt- och singulerade die/modul-test- och burn-in-system som används för burn-in och funktionstest av komplexa enheter, såsom minnen, digitala signalprocessorer, mikroprocessorer, mikrokontroller, system-on-a-chip och integrerade optiska enheter. FOX-CP-systemet är en kompakt lösning för testning och tillförlitlighetsverifiering av enskilda wafers för logiska, minnes- och fotoniska enheter. WaferPak Contactor innehåller ett unikt full-wafer probe card som är kapabelt att testa wafers upp till 300 mm, vilket gör det möjligt för IC-tillverkare att utföra testning och burn-in av hela wafers på Aehr Test FOX-system. DiePak Carrier är ett återanvändbart, temporärt paket som gör det möjligt för IC-tillverkare att utföra sluttest och burn-in av bare die och moduler. Aehr Test Systems grundades 1977 och har sitt huvudkontor i Fremont, Kalifornien.