Onto Innovation 

Onto Innovation Inc. ägnar sig åt design, utveckling, tillverkning och support av processkontrollverktyg som utför makrodefektinspektion och metrologi i USA, Taiwan, Sydkorea, Japan, Kina, Sydostasien, Asien och Europa. Företaget erbjuder litografisystem och analytisk programvara för processkontroll, samt automatiserade och integrerade metrologisystem, inspektion av alla ytor på kiselplattor, makrodefektinspektion, automatiserad defektklassificering och mönsteranalys, avkastningsanalys, metrologi för opaka filmer, 4D-verksamhet, avancerad förpackningslitografi, processkontrollprogramvara och programvaruprodukter för avkastningshantering. Det tillhandahåller även lösningar för process- och avkastningshantering samt anläggningar för enhetsförpackning och testning genom fristående system för optisk metrologi, makrodefektinspektion, förpackningslitografi och mätningar av transparenta och opaka tunna filmer. Dessutom erbjuder företaget en portfölj av processkontrollprogramvara som inkluderar lösningar för fristående verktyg, grupper av verktyg och fabriksövergripande sviter. Vidare är företaget verksamt inom system och programvara, reservdelar och andra tjänster, samt erbjuder programvarulicensiering och avancerade produktlinjer såsom FAaST, CnCV och MBIR. Företagets produkter används av tillverkare av halvledare och avancerade förpackningsenheter, kiselplattor, halvledartillverkare för integrerade kretsar, ljusdioder, vertikal-kavitetsytutsändande lasrar, mikroelektromekaniska system, CMOS-bildsensorer, kisel- och sammansatta halvledare för kraftenheter, analoga enheter, RF-filter, datalagring samt olika industriella och vetenskapliga applikationer. Onto Innovation Inc. grundades 1940 och har sitt huvudkontor i Wilmington, Massachusetts.