Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, Inc. Amerika Birleşik Devletleri, Asya ve Avrupa'da wafer seviyesinde, ayrılmış die, paket parça formunda ve kurulu sistemlerde test, yanma ve yarı iletken cihazları için test çözümleri sunmaktadır. Ürün portföyü, silikon karbür bazlı ve diğer güç yarı iletkenleri, cep telefonları, tabletler ve diğer bilgisayar cihazlarında kullanılan 2D ve 3D sensörler, bellek yarı iletkenleri, işlemciler, mikrodenetleyiciler, sistemler üzerinde çip ve fotonik ve entegre optik cihazlar dahil olmak üzere bir dizi cihazı test edebilen, yanma ve stabilize edebilen tam wafer temas ve ayrılmış die/modül test ve yanma sistemleri olan FOX-XP ve FOX-NP sistemlerini içermektedir. Şirket, mantık, bellek ve fotonik cihazlar için düşük maliyetli tek wafer kompakt test çözümü olan FOX-CP sistemini sunmaktadır; ve FOX WaferPak Contactor, 300 mm'ye kadar wafer test edebilen tam wafer kontağıdır ve entegre devre üreticilerinin FOX-P sistemlerinde tam wafer test, yanma ve stabilizasyonu gerçekleştirmelerini sağlar. Ayrıca, ayrılmış çıplak die ve modüllerin test edilmesini, yanmasını ve stabilize edilmesini sağlayan FOX DiePak Carrier'ı; ve FOX DiePak Loader'ı da sunmaktadır. Şirket 1977 yılında kurulmuş olup merkezi Fremont, Kaliforniya'dadır.