Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems cung cấp các hệ thống kiểm thử cho quá trình burn-in và kiểm tra các mạch tích hợp logic, quang học và bộ nhớ trên toàn thế giới. Công ty cung cấp các sản phẩm như dòng hệ thống kiểm thử và burn-in ABTS và FOX-P, cùng với FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier và FOX DiePak Loader. Hệ thống ABTS được sử dụng trong sản xuất và kiểm tra trình độ của các linh kiện đóng gói cho các thiết bị logic công suất thấp và công suất cao, cũng như các loại thiết bị bộ nhớ phổ biến khác nhau. Các hệ thống FOX-XP và FOX-NP là các hệ thống kiểm thử và burn-in tiếp xúc wafer và die/module đơn lẻ, được sử dụng để burn-in và kiểm tra chức năng của các thiết bị phức tạp như bộ nhớ, bộ xử lý tín hiệu số, bộ vi xử lý, bộ vi điều khiển, hệ thống trên chip (SoC) và các thiết bị quang học tích hợp. Hệ thống FOX-CP là giải pháp kiểm thử và xác minh độ tin cậy nhỏ gọn cho từng wafer đơn lẻ dành cho các thiết bị logic, bộ nhớ và quang tử. WaferPak Contactor chứa một card dò toàn bộ wafer độc đáo có khả năng kiểm tra các wafer lên đến 300mm, cho phép các nhà sản xuất IC thực hiện kiểm thử và burn-in trên toàn bộ wafer trên các hệ thống Aehr Test FOX. DiePak Carrier là một gói tạm thời có thể tái sử dụng, cho phép các nhà sản xuất IC thực hiện kiểm tra cuối cùng và burn-in cho các die trần và module. Aehr Test Systems được thành lập vào năm 1977 và có trụ sở chính tại Fremont, California.