Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, được thành lập vào năm 1977 và có trụ sở tại Fremont, California, chuyên cung cấp các hệ thống kiểm tra và burn-in tiên tiến trên toàn cầu cho các mạch tích hợp, bao gồm các thiết bị logic, quang học và bộ nhớ. Danh mục sản phẩm sâu rộng của công ty bao gồm các giải pháp kiểm tra và burn-in thuộc dòng ABTS và FOX-P, được bổ sung bởi các thành phần chuyên dụng như FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier và FOX DiePak Loader. Hệ thống ABTS được thiết kế đặc biệt cho cả đánh giá sản xuất và kiểm định các linh kiện đã đóng gói, bao gồm nhiều loại thiết bị logic công suất thấp và cao, cũng như các loại bộ nhớ khác nhau. Đối với các mạch tích hợp phức tạp hơn như bộ nhớ, bộ xử lý tín hiệu số, bộ vi xử lý, bộ vi điều khiển, hệ thống trên chip (SoC) và các thiết bị quang học tích hợp, các hệ thống FOX-XP và FOX-NP hỗ trợ quá trình burn-in và kiểm tra chức năng ở cả cấp độ wafer và cấp độ die/module riêng lẻ. Hệ thống FOX-CP của Aehr cung cấp một giải pháp wafer đơn nhỏ gọn để xác minh độ tin cậy của các thiết bị logic, bộ nhớ và quang tử. Một sản phẩm nổi bật, WaferPak Contactor, sở hữu card dò toàn bộ wafer độc quyền, hỗ trợ các wafer lên đến 300mm, cho phép các nhà sản xuất bán dẫn thực hiện kiểm tra và burn-in toàn diện ở cấp độ wafer trên các nền tảng FOX của Aehr. Ngoài ra, DiePak Carrier cung cấp một môi trường đóng gói tạm thời có thể tái sử dụng, giúp các nhà sản xuất IC hoàn tất các quy trình kiểm tra cuối cùng và burn-in cho các die trần và module.