Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, Inc.は、アメリカ、アジア、ヨーロッパにおいて、ウェーハレベル、シングルダイ、パッケージ部品形式、インストールされたシステムのテスト、バーニング、半導体デバイスのテストソリューションを提供しています。製品ポートフォリオには、FOX-XPおよびFOX-NPシステムが含まれており、これらはフルウェーハ接触およびシングルダイ/モジュールテストおよびバーニングシステムで、シリコンカーバイドベースのパワー半導体やその他のデバイス、携帯電話、タブレット、その他のコンピューティングデバイスで使用される2Dおよび3Dセンサー、メモリ半導体、プロセッサ、マイクロコントローラ、システムオンチップ、フォトニクスおよび統合光学デバイスを含むさまざまなデバイスをテスト、バーニング、安定化することができます。会社は、ロジック、メモリ、フォトニックデバイス用の低コストのシングルウェーハコンパクトテストソリューションであるFOX-CPシステムを提供しています。また、FOX WaferPak Contactorは、300mmまでのウェーハをテストできるフルウェーハコンタクタで、集積回路メーカーがFOX-Pシステム上でフルウェーハのテスト、バーニング、安定化を行うことを可能にします。さらに、シングル裸ダイおよびモジュールのテスト、バーニング、安定化を可能にするFOX DiePak CarrierおよびFOX DiePak Loaderも提供しています。会社は1977年に設立され、カリフォルニア州フリーモントに本社を置いています。