Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, fundada em 1977 e sediada em Fremont, Califórnia, é especializada no fornecimento global de sistemas avançados de burn-in e teste para circuitos integrados, abrangendo dispositivos lógicos, ópticos e de memória. Sua extensa linha de produtos inclui as famílias ABTS e FOX-P de soluções de teste e burn-in, complementadas por componentes especializados como o FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier e FOX DiePak Loader. O sistema ABTS é projetado especificamente para avaliações de produção e qualificação de componentes encapsulados, cobrindo uma gama de dispositivos lógicos de baixa e alta potência, bem como vários tipos de memória. Para circuitos integrados mais complexos, como memórias, processadores de sinal digital, microprocessadores, microcontroladores, sistemas em um chip (SoC) e dispositivos ópticos integrados, os sistemas FOX-XP e FOX-NP facilitam o burn-in e os testes funcionais tanto ao nível de wafer quanto ao nível de die/módulo individual. O sistema FOX-CP da Aehr oferece uma solução compacta de wafer único para verificar a confiabilidade de dispositivos lógicos, de memória e fotônicos. Um diferencial de sua oferta, o WaferPak Contactor, apresenta uma probe card exclusiva para wafer completo, acomodando wafers de até 300mm, o que permite aos fabricantes de semicondutores realizar testes abrangentes e burn-in em nível de wafer nas plataformas FOX da Aehr. Além disso, o DiePak Carrier fornece um meio de encapsulamento temporário e reutilizável, permitindo que os fabricantes de CI concluam os processos de teste final e burn-in para bare die e módulos.