Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems fornece sistemas de teste para burn-in e testes de circuitos integrados lógicos, ópticos e de memória em todo o mundo. Oferece produtos como as famílias de sistemas de teste e burn-in ABTS e FOX-P, além do FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier e FOX DiePak Loader. O sistema ABTS é utilizado em testes de produção e qualificação de componentes embalados para dispositivos lógicos de baixa e alta potência, bem como para vários tipos comuns de dispositivos de memória. Os sistemas FOX-XP e FOX-NP são sistemas de contato de wafer e de teste e burn-in de die/módulo singulados, utilizados para burn-in e teste funcional de dispositivos complexos, como memórias, processadores de sinal digital, microprocessadores, microcontroladores, sistemas em um chip (SoC) e dispositivos ópticos integrados. O sistema FOX-CP é uma solução compacta de teste de wafer único e verificação de confiabilidade para dispositivos lógicos, de memória e fotônicos. O WaferPak Contactor contém uma placa de teste de wafer completa e exclusiva, capaz de testar wafers de até 300mm, permitindo que fabricantes de CI realizem testes e burn-in de wafers completos nos sistemas FOX da Aehr Test Systems. O DiePak Carrier é uma embalagem temporária reutilizável que permite aos fabricantes de CI realizar o teste final e o burn-in de bare dies e módulos. A Aehr Test Systems foi constituída em 1977 e tem sede em Fremont, Califórnia.