Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems fornisce sistemi di test per il burn-in e il testing di circuiti integrati logici, ottici e di memoria in tutto il mondo. Offre prodotti quali le famiglie di sistemi di test e burn-in ABTS e FOX-P, oltre a FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier e FOX DiePak Loader. Il sistema ABTS è utilizzato nel testing di produzione e di qualificazione di componenti confezionati per dispositivi logici a bassa e alta potenza, nonché per vari tipi comuni di dispositivi di memoria. I sistemi FOX-XP e FOX-NP sono sistemi di contatto wafer e di test e burn-in per die/moduli singolarizzati, utilizzati per il burn-in e il test funzionale di dispositivi complessi, come memorie, processori di segnale digitale, microprocessori, microcontrollori, system-on-a-chip e dispositivi ottici integrati. Il sistema FOX-CP è una soluzione compatta per il test su singolo wafer e la verifica dell'affidabilità per dispositivi logici, di memoria e fotonici. Il WaferPak Contactor contiene una card di sonda per intero wafer unica nel suo genere, in grado di testare wafer fino a 300 mm, che consente ai produttori di IC di eseguire test e burn-in di interi wafer sui sistemi Aehr Test FOX. Il DiePak Carrier è un package temporaneo e riutilizzabile che consente ai produttori di IC di eseguire il test finale e il burn-in di die nudi e moduli. Aehr Test Systems è stata costituita nel 1977 e ha sede a Fremont, California.