Aehr Test Systems 

Aehr Test Systems, fondata nel 1977 e con sede a Fremont, California, è specializzata nella fornitura globale di sistemi avanzati di burn-in e test per circuiti integrati, comprendenti dispositivi logici, ottici e di memoria. La sua ampia gamma di prodotti include le famiglie di soluzioni di test e burn-in ABTS e FOX-P, completate da componenti specializzati come il FOX WaferPak Aligner, il FOX-XP WaferPak Contactor, il FOX DiePak Carrier e il FOX DiePak Loader. Il sistema ABTS è progettato specificamente per valutazioni di produzione e qualificazione di componenti confezionati, coprendo una gamma di dispositivi logici a bassa e alta potenza, nonché vari tipi di memoria. Per circuiti integrati più complessi come memorie, processori di segnale digitale, microprocessori, microcontrollori, sistemi su chip (SoC) e dispositivi ottici integrati, i sistemi FOX-XP e FOX-NP facilitano il burn-in e il test funzionale sia a livello di wafer che a livello di singolo die/modulo. Il sistema FOX-CP di Aehr offre una soluzione compatta a wafer singolo per verificare l'affidabilità di dispositivi logici, di memoria e fotonici. Un'offerta distintiva, il WaferPak Contactor, presenta un'esclusiva probe card full-wafer, in grado di ospitare wafer fino a 300 mm, che consente ai produttori di semiconduttori di eseguire test e burn-in completi a livello di wafer sulle piattaforme FOX di Aehr. Inoltre, il DiePak Carrier fornisce un mezzo di confezionamento temporaneo e riutilizzabile, consentendo ai produttori di IC di completare i processi di test finale e burn-in per die nudi e moduli.