Onto Innovation 

Onto Innovation Inc. si occupa della progettazione, dello sviluppo, della produzione e del supporto di strumenti per il controllo dei processi che eseguono l'ispezione dei macro-difetti e la metrologia negli Stati Uniti, Taiwan, Corea del Sud, Giappone, Cina, Sud-est asiatico, Asia ed Europa. La società offre sistemi di litografia e software analitici per il controllo dei processi; sistemi di metrologia automatizzati e integrati, ispezione di tutte le superfici dei wafer di silicio, ispezione dei macro-difetti, classificazione automatizzata dei difetti e analisi dei pattern, analisi della resa (yield), metrologia di film opachi, business 4D, litografia per l'advanced packaging, software di controllo dei processi e prodotti software per la gestione della resa. Fornisce inoltre soluzioni per la gestione dei processi e della resa, e strutture per il packaging e il test dei dispositivi attraverso sistemi standalone per la metrologia ottica, l'ispezione dei macro-difetti, la litografia per il packaging e la misurazione di film sottili trasparenti e opachi. Inoltre, l'azienda offre un portfolio di software per il controllo dei processi che include soluzioni per strumenti standalone, gruppi di strumenti e suite per l'intera fabbrica. Inoltre, opera nel settore dei sistemi e dei software, dei pezzi di ricambio e di altri servizi, oltre a offrire servizi di licenza software; e fornisce linee di prodotti avanzate, come FAaST, CnCV e MBIR. I prodotti dell'azienda sono utilizzati dai produttori di semiconduttori e dispositivi di advanced packaging; wafer di silicio; produttori di circuiti integrati semiconduttori; diodi a emissione di luce; laser a cavità verticale (VCSEL); sistemi micro-elettromeccanici (MEMS); sensori d'immagine CMOS; dispositivi di potenza in silicio e semiconduttori composti; dispositivi analogici; filtri RF; archiviazione dati; e varie applicazioni industriali e scientifiche. Onto Innovation Inc. è stata fondata nel 1940 e ha sede a Wilmington, Massachusetts.